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emmi微光顯微鏡是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。當(dāng)對(duì)樣品施加適當(dāng)電壓時(shí)，其失效點(diǎn)會(huì)因加速載流子散射或電子-空穴對(duì)的復(fù)合而釋放特定波長(zhǎng)的光子。這些光子經(jīng)過收集和圖像處理后，就可以得到一張信號(hào)圖。撤去對(duì)樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號(hào)圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點(diǎn)的位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)失效點(diǎn)的定位。對(duì)于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHPRecom...

一、介紹：(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生器，在調(diào)試硬件時(shí)，常常需要加入一些信號(hào)，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號(hào)發(fā)生器，不但笨重，而且只發(fā)一些簡(jiǎn)單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶要調(diào)試串口通信程序時(shí)，就要在計(jì)算機(jī)上寫好一段程序，再用線連接計(jì)算機(jī)和用戶實(shí)驗(yàn)板，如果不正常，不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能，就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過邏輯探勾輸出，調(diào)試起來簡(jiǎn)單快捷。二、設(shè)計(jì)原理：1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方...

探針臺(tái)溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺(tái)，通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點(diǎn)：1、可編程精密控溫?？瑟?dú)立控制，也可從上位機(jī)軟件控制；2、探針需開蓋移動(dòng)，樣品臺(tái)面電接地；3、探針，分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口；4、杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性...

MPI探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。它主要的功能就是針對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行檢測(cè)，這里面說的半導(dǎo)體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測(cè)試。通過探針臺(tái)配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)?？梢赃m用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查檢測(cè)等；可以保證這些半導(dǎo)體元件的質(zhì)量，縮短研發(fā)時(shí)間和器件...

一、頻譜分析儀是研究電信號(hào)頻譜結(jié)構(gòu)的儀器，用于信號(hào)失真度、調(diào)制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調(diào)失真等信號(hào)參數(shù)的測(cè)量，可用以測(cè)量放大器和濾波器等電路系統(tǒng)的某些參數(shù)，是一種多用途的電子測(cè)量?jī)x器。二、工作原理是輸入信號(hào)經(jīng)衰減器直接外加到混波器，可調(diào)變的本地振蕩器經(jīng)與CRT同步的掃描產(chǎn)生器產(chǎn)生隨時(shí)間作線性變化的振蕩頻率，經(jīng)混波器與輸入信號(hào)混波降頻后的中頻信號(hào)(IF)再放大，濾波與檢波傳送到CRT的垂直方向板，因此在CRT的縱軸顯示信號(hào)振幅與頻率的對(duì)應(yīng)關(guān)系。三、分類：(1)傳統(tǒng)的頻譜分析儀...

高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)是一種用于數(shù)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測(cè)試條件下進(jìn)行非破壞性的電學(xué)表征和測(cè)量平臺(tái)。在不同測(cè)試環(huán)境、不同溫度條件下可對(duì)微結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體器件、微電子器件及材料進(jìn)行電學(xué)特性表征測(cè)試?？梢詫?duì)材料或器件進(jìn)行電學(xué)特性測(cè)量、光電特性測(cè)量、參數(shù)測(cè)量、高阻測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和微波特性測(cè)量，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)（芯片、晶圓片、封裝器件）、MEMS、超導(dǎo)、電子學(xué)、物理學(xué)和材料學(xué)等領(lǐng)域。高低溫半自動(dòng)探...

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的電子測(cè)量?jī)x器，半導(dǎo)體制造是人類迄今為止掌握的工業(yè)技術(shù)難度Z高的生產(chǎn)環(huán)節(jié)，是先進(jìn)制造領(lǐng)域上的一顆鉆石。隨著半導(dǎo)體技術(shù)不斷發(fā)展，芯片線寬尺寸不斷減小，制造工序逐漸復(fù)雜。目前國(guó)際上7nm制程已進(jìn)入產(chǎn)業(yè)化階段，需要近2000道工序，先進(jìn)的制程和復(fù)雜的工序?qū)⒊掷m(xù)提升對(duì)于先進(jìn)設(shè)備的需求。集成電路檢測(cè)根據(jù)工藝所處的環(huán)節(jié)可以分為設(shè)計(jì)驗(yàn)證、前道量檢測(cè)和后道檢測(cè)。集成電路芯片的生產(chǎn)主要分為IC設(shè)計(jì)、IC前道制造和IC后道封裝測(cè)試三大環(huán)節(jié)，狹義上對(duì)集成電...

uf200探針臺(tái)是一種用于生物學(xué)領(lǐng)域的電子測(cè)量?jī)x器，專為通用邏輯裝置而設(shè)計(jì)，支持對(duì)8英寸及8英寸以下晶圓進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，支持200um薄片的測(cè)試，測(cè)試溫度范圍從室溫到150度。它不僅繼承了UF200的基本概念，同時(shí)進(jìn)一步采用了新技術(shù)的架構(gòu)。可以提供晶圓OCR自動(dòng)識(shí)別，自動(dòng)控制、與測(cè)試機(jī)聯(lián)動(dòng)對(duì)8英寸及8英寸以下晶圓進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的篩選。一、產(chǎn)品特點(diǎn)：1、它可執(zhí)行5至8英寸晶圓的傳輸與針測(cè)。2、采用和UF2000相同的MMI。3、多種選擇，可達(dá)成所有非業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)種類的晶圓針測(cè)。4、增加...