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Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備 近年來，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前先進(jìn)技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動(dòng)駕駛芯片的可靠性，保障汽車運(yùn)行中的安全。目前國內(nèi)尚未有關(guān)于汽車芯片可靠性的標(biāo)準(zhǔn)，而是基于國際AEC-Q100系列標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行汽車芯片可靠性測(cè)試，其中一環(huán)節(jié)就是要對(duì)汽車芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測(cè)試。

HANWA HCE-5000ESD測(cè)試機(jī)是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備

HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī)

ESD測(cè)試設(shè)備,ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：具有優(yōu)化的操作理念。 擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng)。 基于“向前看”理念的升級(jí)設(shè)計(jì)。

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