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  • HANWA HED-C5000R CDM測試設備
    HANWA HED-C5000R CDM測試設備

    適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:1254
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  • 掃描電鏡
    掃描電鏡

    掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進分析功能的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗緊密地結(jié)合在一起。

    更新時間:2024-06-12型號:訪問量:949
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  • 芯片封裝焊接強度測試儀
    芯片封裝焊接強度測試儀

    芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務。

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:948
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  • 半導體場發(fā)射掃描電鏡
    半導體場發(fā)射掃描電鏡

    GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒,創(chuàng)下了表面成像技術(shù)新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調(diào)節(jié)引擎是為方便您使用高分辨率成像 技術(shù)而特別定制的,即使要對敏感樣品進行超高分辨率的成像也是輕而易舉。 GeminiSEM 560 在任何工作條件下都能達到該系列的最高分辨率,突破了常規(guī) 浸沒式表面成像技術(shù)的上限。半導體場發(fā)射掃描電鏡

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:919
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  • 半導體光學/共聚焦顯微鏡
    半導體光學/共聚焦顯微鏡

    半導體光學/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務。

    更新時間:2024-06-12型號:訪問量:980
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  • 德國進口晶圓光學檢測設備
    德國進口晶圓光學檢測設備

    德國進口晶圓光學檢測設備憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務。

    更新時間:2024-06-12型號:訪問量:1227
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