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HED-W5000M 晶圓ESD測試機

簡要描述:ESD測試設備,ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-04-29
  • 訪  問  量:1965

詳細介紹

ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

 

HED-W5000M


晶圓ESD測試機 

價格適中的多功能手動晶圓級測試儀。

l  專用軟件可用于泄漏測量和判斷。

l  適用于大多數(shù)類型的手動探針臺。 

 

 

Wafer ESD 測試機系列

 

Wafer ESD 測試機 產(chǎn)品系列

此設備是可以在Wafer level上進行HBM,MM測試的設備

產(chǎn)品名/型號 設備說明 設備介紹視頻

HED-W5100D
HED-W5100D

全自動 Wafer ESD測試機

從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer,可適用于HBM和MM的放電

ESD印加后,可根據(jù)漏電流測試判斷pass/fail

并且可以與ESD測試有關(guān)聯(lián)性的TLP測試設備進行組合測試

對ESD測試中發(fā)生問題的器件,能有效取得保護電路中的工作參數(shù)

是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。(滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格)


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HED-W5000M
HED-W5000M

高性能半自動Wafer level ESD測試機

通過操作探針座,可以輕松地決定兩個管腳之間的位置

在印加脈沖后,可以通過漏電流測試判斷pass/fail。

 

HED-W5000M-SP0
HED-W5000M-SP0

Low Cost Wafer ESD Tester

低成本、高性能

可通過開放控制軟件構(gòu)建廣泛應用程序

 

HED-W5000M-WFC
HED-W5000M-WFC

Wafer level ESD測試機

在對集成電路中保護電路工作參數(shù)的收集與分析上,雖然TLP測試機起到了很大的作用,但是在半導體制程細微化的發(fā)展中, 為了提高對ESD的抵抗性,保護電路需要更快的研發(fā)速度

HED-W5000M-WFC測試機,因其可以觀測到被印加到器件上的實際的ESD波形,所以有助于收集、分析保護電路參數(shù)以及縮短研發(fā)速度

 

HED-W5000M 晶圓ESD測試機

 

 

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