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簡要描述:ESD測試設(shè)備,芯片ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
產(chǎn)品名/型號 | 設(shè)備說明 | 設(shè)備介紹 |
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HED-G5000 | 全自動靜電破壞裝置的高性能版本出現(xiàn)了測試符合國際標(biāo)準(zhǔn)是可能的。 | |
HED-S5000R-D | 全自動靜電放電設(shè)備的傳統(tǒng)機(jī)臺此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 | click |
HED-S5000R | 銷售實(shí)績.1可以通過連接曲線圖示儀來輕松地判斷pass/fail | |
HED-N5000-DCPC | 多管腳高性能全自動靜電放電測試機(jī)最大可進(jìn)行8個器件的測試。最大測試管腳數(shù)1024Pin | click |
HCE-5000 | 桌上型ESD測試儀測試操作簡單的便攜式靜電放電測試設(shè)備 | click |
HPE-5000 | 便攜式ESD測試儀本設(shè)備是測試半導(dǎo)體器件的靜電破壞強(qiáng)度的設(shè)備 |
HANWA ESD測試全部設(shè)備簡介
HANWA ESD測試全部設(shè)備簡介
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