ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC

TLP 測試機 

l 用于獲取器件保護電路的相關(guān)參數(shù)特性

l 為器件升級提供支持，縮短產(chǎn)品周期

l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。

l   具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產(chǎn)率。

l   可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出型號（T5000-HC）。

HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

TLP 測試機 產(chǎn)品系列

此設(shè)備是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設(shè)備

對集成電路里保護電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助

也可進行VF-TLP測試

產(chǎn)品名/型號	設(shè)備說明	設(shè)備介紹視頻
HED-T5000/ HED-T5000VF	此設(shè)備配備了先進的測試模式 具備印加脈沖寬度為100ns/200ns的normal TLP測試與寬度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)測試模式 有助于驗證HBM/CDM模式的測試 對于器件管腳的入射波和器件管腳發(fā)出的反射波，都可在示波器上確認到 此數(shù)據(jù)會自動保存，并在專用的顯示軟件上表示 專用顯示軟件可對入射波/反射波的合計值，snapback特性以及漏電流測試的電流值進行圖形描繪 被保存的示波器上的數(shù)據(jù)可以進行高自由度的演算處理 比如，對于不同工藝的晶體管的ON電壓及可以加在保護電路上的最大電流值等，可以通過曲線的重疊描繪來確認其差異 并且可以與半自動探針臺連接，實現(xiàn)TLP測試的自動化 由于可以在Wafer level上進行印加管腳間或芯片間的自動移位，所以能夠很大地提升測試效率
HED-T5000-HC	目前，對于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加 對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在本設(shè)備上得以實現(xiàn)、并有助于高耐壓元件工作參數(shù)的取得及分析