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  • GP200-8英寸手動探針臺
    GP200-8英寸手動探針臺

    GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在最短時間內(nèi)準確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:2468
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  • GP200-SE8英寸高低溫探針臺
    GP200-SE8英寸高低溫探針臺

    GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在最短時間內(nèi)準確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學系統(tǒng)結(jié)合分辨率<2μm的針座系統(tǒng),確保扎針的穩(wěn)定性。

    更新時間:2024-06-13型號:GP200-SE訪問量:2474
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  • GP200SiPH硅光探針臺
    GP200SiPH硅光探針臺

    硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置,在短時間內(nèi)可準確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。 GP200擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學系統(tǒng)結(jié)合分辨率<2μm的針座系統(tǒng),確保扎針的穩(wěn)定性。

    更新時間:2024-06-12型號:GP200SiPH訪問量:2247
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  • GP2000/GP2000-SEGP半自動探針臺
    GP2000/GP2000-SEGP半自動探針臺

    GP半自動探針臺,GP2000-SE 高低溫探針臺。機臺可輕松實現(xiàn)DC ~ THZ測量,提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。可應用于I-V/C-V/P-IV測試、1/f噪聲測試、射頻/毫米波測試、功率測試、Load-Pull測試等。

    更新時間:2024-09-13型號:GP2000/GP2000-SE訪問量:7170
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  • GP300探針臺
    GP300探針臺

    大功率探針臺,GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單,機臺可輕松實現(xiàn)DC ~ THZ測量,提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:6688
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  • GP200探針臺
    GP200探針臺

    溫控探針臺,進口探針臺,GP200探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在短時間內(nèi)準確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。

    更新時間:2024-04-02型號:訪問量:6627
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  • TS200-SEMPI 8英寸射頻高低溫手動探針臺
    TS200-SEMPI 8英寸射頻高低溫手動探針臺

    8英寸手動探針臺,射頻探針臺,高壓探針臺,MPI 8英寸射頻高低溫手動探針臺具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探針系統(tǒng)可提供最大的EMI屏蔽,并允許進行低噪聲的器件在片測量,從而可廣泛用于各種應用,例如器件表征和建模,RF /微波,晶片級可靠性,故障分析,設計驗證,和大功率。

    更新時間:2024-04-02型號:TS200-SE訪問量:8221
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  • TS2000-DP半自動|MPI 8英寸高壓探針臺
    TS2000-DP半自動|MPI 8英寸高壓探針臺

    高壓探針臺通過TS2000-DP,MPI提供了一個多功能且經(jīng)濟高效的探針臺,半自動|MPI 8英寸高壓探針臺適用于20°C至300°C溫度范圍內(nèi)的晶圓上高功率器件測量,測量能力高達3 kV(三軸)/ 10 kV(同軸)和600 A(脈沖)。

    更新時間:2024-04-02型號:TS2000-DP訪問量:2075
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