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簡要描述:GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
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型號:GP200
名稱:8英寸手動探針臺
應(yīng)用:專門為升級和擴(kuò)展所設(shè)計(jì)的各種選項(xiàng),可輕松實(shí)現(xiàn)如負(fù)載牽引系統(tǒng)、太赫茲系統(tǒng)、輻照系統(tǒng)、1/f噪聲等系統(tǒng)的搭載,GP200系統(tǒng)也可根據(jù)您的未來項(xiàng)目需求進(jìn)行重新配置。
GP200擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率<2μm的針座系統(tǒng),確保扎針的穩(wěn)定性。在直流應(yīng)用中,GP200高品質(zhì)的電纜和三軸信號通路,可使DUT特性分析達(dá)到Fa 標(biāo)準(zhǔn);射頻應(yīng)用中,通過縮短擴(kuò)頻模塊與探針之間連接器的距離,可高效且更好地實(shí)現(xiàn)THz內(nèi)器件高品質(zhì)參數(shù)的提取。優(yōu)益的三軸低漏點(diǎn)載物臺的選件,能夠給器件測試帶來更多的信心。
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