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簡要描述:溫控探針臺,進(jìn)口探針臺,GP200探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
GP200探針臺讓您的芯片測試更加簡單
GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置, 能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
l 機(jī)臺可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量。
l 提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。
l 優(yōu)異的三軸設(shè)計(jì),保證I-V測試漏電精度達(dá)到f ji級。
l 多孔吸附式載物臺設(shè)計(jì),更好地兼容薄晶圓固定。
l 高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng),可直觀了解扎針情況,提高扎針的準(zhǔn)確性和效率。
l 可升級的高低溫系統(tǒng),為芯片提供更加成熟穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。
l 緊湊且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì),更適用于芯片的測試及建模系統(tǒng)升級。
l 能夠根據(jù)未來需求,可提供多種升級模塊,輕松實(shí)現(xiàn)探針臺功能升級。
l 短軸式拉桿設(shè)計(jì),將更加符合新一代芯片系統(tǒng)測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定,將進(jìn)一步防止誤操作,提高測試效率,節(jié)省成本。
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