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GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置,能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專業(yè)的測(cè)試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠的測(cè)試平臺(tái),保證測(cè)試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率<2μm的針座系統(tǒng),確保扎針的穩(wěn)定性。
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8英寸手動(dòng)探針臺(tái),射頻探針臺(tái),高壓探針臺(tái),MPI 8英寸射頻高低溫手動(dòng)探針臺(tái)具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探針系統(tǒng)可提供最大的EMI屏蔽,并允許進(jìn)行低噪聲的器件在片測(cè)量,從而可廣泛用于各種應(yīng)用,例如器件表征和建模,RF /微波,晶片級(jí)可靠性,故障分析,設(shè)計(jì)驗(yàn)證,和大功率。
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