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HANWA HED-C5000R CDM測試設備

簡要描述:適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-04-02
  • 訪  問  量:1253

詳細介紹

HANWA HED-C5000R CDM測試設備

ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM測試設備


HED-C5000R


CDM機2



Hanwa CDM測試機

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ,AEC,EIAJ),

l 可快速轉換不同標準的測試

l   臺式尺寸,緊湊,準確可靠的CDM測試儀。

l   配備的CCD攝像機

l   提供FI-CDM和D-CDM模式。

l   可以測量每個引腳的電容。

尺寸:W575 x D400 x H300 Weight 35Kg  Compact Desktop Size


CDM 測試機

此設備是用來測試接觸不同電位物質時的破壞性設備

產品名/型號設備說明設備介紹視頻

HED-C5000R
HED-C5000R

此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備

(滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格)可通過交換放電電路組件支持日本國內及國際的測試規(guī)格

可測量器件的各個端子的容量,測試數(shù)據(jù)可保存為文本文件形式




click


符合所有主要國際標準:



標準

標準版號

模式

校準工具


1

ESDA/JEDEC

Joint Standard

AEC101/102

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


2


JEDEC


JESD22-C101F


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


3


ESDA


ANSI/ESD S5.3.1-2009


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


4


AEC


AEC - Q100-011 Rev-C1


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


5


JEITA


JEITA ED-4701/302 (Method 305C)


D-CDM

Small/Large coin(disk)

+

FR-4 board


image.png





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