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誠信經(jīng)營質量保障價格實惠服務完善簡要描述:適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備
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HANWA HED-C5000R CDM測試設備
ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM測試設備
HED-C5000R
Hanwa CDM測試機
l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ,AEC,EIAJ),
l 可快速轉換不同標準的測試
l 臺式尺寸,緊湊,準確可靠的CDM測試儀。
l 配備的CCD攝像機
l 提供FI-CDM和D-CDM模式。
l 可以測量每個引腳的電容。
尺寸:W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
此設備是用來測試接觸不同電位物質時的破壞性設備
產品名/型號 | 設備說明 | 設備介紹視頻 |
---|---|---|
HED-C5000R | 此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 | click |
符合所有主要國際標準:
標準 | 標準版號 | 模式 | 校準工具 | |
1 | ESDA/JEDEC Joint Standard | AEC101/102 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 | FI-CDM | Small/Large coin(disk) |
2 | JEDEC | JESD22-C101F | FI-CDM | Small/Large coin(disk) |
3 | ESDA | ANSI/ESD S5.3.1-2009 | FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
4 | AEC | AEC - Q100-011 Rev-C1 | FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
5 | JEITA | JEITA ED-4701/302 (Method 305C) | D-CDM | Small/Large coin(disk) + FR-4 board |
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